Bilden är för referens, kontakta oss för att få den verkliga bilden
Tillverkarens artikelnummer: | SN74ABTH18646APM |
Tillverkare: | Texas Instruments |
Del av beskrivning: | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP |
Datablad: | SN74ABTH18646APM Datablad |
Blyfri status / RoHS-status: | Blyfri / RoHS-kompatibel |
Lagerskick: | I lager |
Skicka från: | Hong Kong |
Sändningssätt: | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
Typ | Beskrivning |
---|---|
Serier | 74ABTH |
Paket | Tray |
Delstatus | Active |
Logiktyp | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
Matningsspänning | 4.5V ~ 5.5V |
Antal bitar | 18 |
Arbetstemperatur | -40°C ~ 85°C |
Monteringstyp | Surface Mount |
Förpackning / fodral | 64-LQFP |
Leverantörens enhetspaket | 64-LQFP (10x10) |
Lagerstatus: 160
Minimum: 1
Kvantitet | Enhetspris | Ext. Pris |
---|---|---|
![]() Priset är inte tillgängligt, vänligen ansök |
US $40 av FedEx.
Anländer om 3-5 dagar
Express:(FEDEX, UPS, DHL, TNT)Fri frakt på första 0,5 kg för beställningar över 150 $, övervikt debiteras separat